T3Ster    The Thermal Transient Tester

一、公司產品

● 先進的半導體熱特性測試儀—T3Ster：

T3ster 運用 JEDEC 測試方法(JESD51-1)中先進的實時采樣靜態測試方法（Static Method），廣泛用于測試各類 IC（包括二極管、三極管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、導熱材料、散熱器、熱管等的熱阻、熱容及導熱系數、接觸熱阻等熱特性。配合專為 LED 產業開發的選配件 TERALED可以實現 LED 器件和組件的光熱一體化測量。

二、T3Ster 熱測試儀的配置

         T3Ster 的基本配置包括測試主機(包括數控單元、功 率驅動單元和 1-8 個測試通道)以及安裝于 Windows 平臺的測量控制和結果分析軟件。儀器配備有不同 的接口(USB 或 LPT 接口)聯接到個人電腦上。

    外加選配件 T3ster-booster 功率放大器可以使驅動能力提高 10 到 100 倍 每個通道均采用差分輸入放大器，可以有效地抑制噪聲，大大提高了測試精度。

三、T3Ster 的應用范圍

     T3Ster 采用非破壞性的測量方法，可以測量幾乎所有的半導體器件的熱學性能，包括：

1、分離或集成的雙極型晶體管、常見的三極管、二極管和半導體閘流管、以及大功率 IGBT、 MOSFET 等器件；

2、大功率 LED：MicReD 專為 LED 產業開發的選 配件 TERALED 可以實現 LED 器件的光熱一體 化測量；T3ster 還

   可以測量整個 LED 燈具的熱 阻；

3、任何復雜的 IC 器件(利用其內置的基板二極 管)；

4、具有單獨加熱器和溫度傳感器的熱測試芯片；

5、各種材料包括復合材料如 PCB、導熱膠等的熱參數（熱傳導系數及比熱容）；

6、各類材料之間表面接觸熱阻測量；

7、各種復雜的散熱模組的熱特性測試。

    針對以上器件，T3Ster除了可以測量其穩態熱阻外，還可以分析器件熱傳導路徑上各層結構的詳細信息，包括其熱阻、熱容等參數，從而構建出器件的熱模型。利用這些信息， T3Ster可以為器件封裝工藝的監測、可靠性篩選以及老化試驗分析等提供強而有力的支持。