YB6600半導體分立器件參數圖示測試系統

1.1 系統概述

YB6600是一款很具有代表性的新型半導體晶體管圖示系統，本系統可自動生成功率器件的I-V曲線，也可根據客戶的實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統在失效分析，IQC來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應用。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。系統典型的測試時間是6 to 20ms,通常上百個數據點曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現出來，數據捕獲的曲線可導入EXCEL等格式進一步分析研究，是一款高效多功能的高端半導體測試設備。

本系統使用方便，只需要通過USB或者RS232與電腦連接，通過電腦中友好的人機界面操作，即可完成測試。并可以實現測試數據以EXCEL和WORD的格式保存。系統提供過電保護功能，門極過電保護適配器提供了廣泛的診斷測試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設備狀態和測試結果提供了可靠地保證。

1.2 YB6600測試儀指標

 1.測 試 電 壓： ≤2KV
     2.測 試 電 流： ≤50A
     3.電 壓分辨率： 1mV
     4.電流 分辨率： 0.1nA            
     5.測 試 精 度： 0.2%+2LSB

1.3 測試范圍

1．雙向可控硅（TRIAC）          

2．MOS場效應管（Power MOSFET）

3．絕緣柵雙極大功率晶體管（IGBT）

4．結型場效應管 （J-FET ）

5．晶體管（Transistor）           

6．達林頓陣列(Darliknton)      

7．穩壓（齊納）二極管（Zener）   

8．二極管(Diode) 

9．可控硅整流器（SCR ）          

10．三端穩壓器（REGULATOR ）

11．光電耦合器（OPTO-COUPLER）    

12．雙向觸發二極管  （DIAC)

13．固態過壓保護器（SOVP）       

14．繼電器（RELAY）

1.4系統軟件支持

器件測試程序的生成是通過在一臺運行系統為Windows或WindowsNT的PC機上YB6600接口程序實現的。該程序提供快速的器件測試程序生成，具有全屏顯示和增強型編輯幫助。

    一種填空式編程方法向用戶提供簡明、直觀的使用環境。操作人員只需在提示下，輸入所選器件系列名稱和測試類型，并選擇所需測試的參數，而不必具有專業計算機編程語言知識。完成一個器件的測試程序編制只需幾分鐘的時間，非常快捷方便。

2.1 概述

YB6600測試系統通過PC機對其內部功率源、測試施加條件、測試具體線路進行控制，達到對器件進行測試的目的。在一定的測試條件下，這些源與條件負載按照條件準確的連接，其中包含了大量的負載、轉換功率源和所要求的外部測試線路。