全新源測量單元滿足高功率器件測量應(yīng)用需求

    全球領(lǐng)先的測試測量和監(jiān)測儀器提供商——泰克科技公司日前宣布，推出一款簡便易用的圖形源測量單元(SMU)儀器，用以優(yōu)化和分析高功率材料、器件和模塊的特性。

    Keithley 2461高電流源表SMU儀器為創(chuàng)建精確控制的10 A/100 V、1000 W高電流脈沖提供了許多先進(jìn)的功能，最大限度地降低功率器件熱量效應(yīng)，保持器件的完整性。雙18位高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器可以簡便地測量待測器件特點(diǎn)，并在前面板上直接以圖形方式顯示，立即進(jìn)行分析。在久負(fù)盛名的2450和2460 SMU平臺基礎(chǔ)上，2461擁有同類最高的DC和脈沖源和阱性能，用戶可以更深入地了解設(shè)計(jì)的特點(diǎn)。

    開發(fā)下一代高功率材料和器件的科研人員、科學(xué)家和設(shè)計(jì)工程師必需能夠在各種DC和脈沖功率上進(jìn)行測量，檢驗(yàn)待測器件性能，同時使器件自熱效應(yīng)達(dá)到最小，因?yàn)樽詿峤?jīng)常導(dǎo)致器件或模塊故障。這適用于材料研究、半導(dǎo)體器件、電路保護(hù)裝置、高級照明技術(shù)、能源貯存和生成器件及消費(fèi)電子中使用的功率管理電子等市場。

    “全球綠色能源計(jì)劃和能源效率標(biāo)準(zhǔn)正在推動對更高效的功率半導(dǎo)體器件和系統(tǒng)的需求。”泰克科技公司吉時利產(chǎn)品線總經(jīng)理Mike Flaherty說，“最新的高功率應(yīng)用是非常苛刻的，要求測試儀器能夠分析比以前明顯更高的電流、更高的功率、更高的峰值電流、以及更低的泄漏電流。2461滿足了這一需求，提供了前所未有的同類領(lǐng)先的性能和界面友好組合。”

    與泰克其他吉時利圖形SMU一樣，2461提供了簡單直觀的Touch, Test, Invent®用戶體驗(yàn)，最大限度地縮短學(xué)習(xí)周期，加快測試設(shè)置，更快地獲得所需信息。通過圖形觸摸屏界面，用戶可以像在智能手機(jī)和平板電腦上一樣，使用自然手勢在前面板上直接與結(jié)果交互，迅速放大和縮小數(shù)據(jù)，同時進(jìn)行詳細(xì)的分析。內(nèi)置開放源腳本語言使得用戶能夠?yàn)閷ｉT的測量應(yīng)用創(chuàng)建可以重用、可以量身定制的測試軟件庫。

    2461的10A/100V、1000W脈沖功率使得工程師可以在更短的時間內(nèi)對待測器件應(yīng)用更多的功率，最大限度地降低待測器件的自熱效應(yīng)，相比之下，DC電流測試則可能會掩蓋待測器件的真實(shí)特點(diǎn)。如果應(yīng)用電流的時間太長，DC測試還可能會損壞待測器件。由于18位雙1 MS/s模數(shù)轉(zhuǎn)換器，2461可以同時測量和查看待測器件特點(diǎn)、波形以及電流和電壓的瞬態(tài)事件。全新的快速“接觸檢查”功能可以幫助用戶最大限度地降低測量誤差，減少與接觸疲勞、探頭尖端雜質(zhì)、連接松動或斷開和繼電器故障有關(guān)的產(chǎn)品誤判。這些功能讓用戶對測試結(jié)果更自信，從而可以更快地做出設(shè)計(jì)和工程決策。<