是德科技推出新型并行參數測試系統(tǒng)，助力實施經濟高效的高吞吐量晶圓測試

　　2021年12月6日，中國北京——是德科技公司（NYSE：KEYS）日前宣布，推出新型Keysight P9002A并行參數測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以實現高吞吐量、經濟高效的晶圓測試，從而加速產品上市，降低制造測試成本。是德科技提供先進的設計和驗證解決方案，旨在加速創(chuàng)新，創(chuàng)造一個安全互聯(lián)的世界。

　　目前，全球半導體供應不足導致半導體的需求尤其是在汽車行業(yè)、數字設備和家用電器行業(yè)不斷地加大。半導體技術創(chuàng)新雖然進展迅速，然而該行業(yè)在適應新材料、降低外形尺寸以及3D封裝工藝方面遇到了一系列技術挑戰(zhàn)。此外，針對5G、數據中心、人工智能（AI）和汽車等商業(yè)應用而設計的各種復雜器件也導致了測試參數有增無減。

　　為了應對這一挑戰(zhàn)并使得制造商能夠快速提升產能，是德科技推出了新型P9002A并行參數測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可以實現高吞吐量、經濟高效的晶圓測試。它采用了一個靈活的選件結構，可用于最多100個通道并行測試資源，有能力對每個測試資源執(zhí)行參數測試。是德科技P9000系列運行的軟件可以與SPECS軟件兼容，后者運行在4080系列參數測試系統(tǒng)上，因此客戶能夠充分利用有數據關聯(lián)性的現有測試程序和測試計劃。

　　是德科技的新型P9002A并行參數測試系統(tǒng)具有以下關鍵優(yōu)勢：

　　能夠根據測試要求添加選件，采用了有利于控制成本預算的許可證結構。

　　·與4080系列參數測試系統(tǒng)相比，獨特的參數測試技術和快速電容測量可顯著提高測試吞吐量。

　　·可以兼容Keysight 4080系列參數測試系統(tǒng)并關聯(lián)數據，使得客戶能夠充分利用其現有測試系統(tǒng)程序、測試計劃、探針卡及兼容4080測試系統(tǒng)的探針卡適配器，從而最大限度降低搭建新P9002A測試環(huán)境的成本。