HP8714ET
★頻率范圍：300kHz~3000MHz
★窄帶/寬帶檢測
★集成化傳輸/反射測試裝置
★內(nèi)置HP Instrument BASIC
★AM延遲
★裝有3 1/2英寸磁盤驅(qū)動器（LIF/DOS）
★“實時”掃描速度（50ms/一次掃描）
★1Hz分辨率的合成信號源
★100dB的系統(tǒng)動態(tài)范圍
射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀
    HP8714ET經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀具有速度快、精度高和測量適應(yīng)能力強，并且價格合理，對于大批量射頻元器件的制造是十分理想的。它能表征各種射頻元件的傳輸/反射的頻響，即測量插損、增益、回波損耗、變換損耗、功率或駐波比。HP8714ET是結(jié)構(gòu)緊湊的集成網(wǎng)絡(luò)分析儀，能快速、簡便、精確地進行射頻測試。
    集成化合成源和傳輸/反射測試裝置使得只需連接一次就可掃頻表征射頻 元件的特性。內(nèi)部合成源是一個快速（掃描一次50ms)和穩(wěn)定(1Hz分辨率)的激勵器，用于窄帶器件的測試。HP8713B具有的靈敏接收機，有窄帶和寬帶二種檢測工作方式，因此適于測試射頻系統(tǒng)中的線性和非線性元件。寬帶檢測適合于表征頻率變換器件，窄帶檢測能提供大于100dB的動態(tài)范圍，用于測試高抑制參數(shù)的窄帶器件。已校準的外部標量檢波器用于測量遠程的被測件(DUT)和調(diào)幅(AM)延遲。功率掃描能對放大器的增益壓縮進行測試。
    可選用的HP Instrument BASIC(IBASIC)將計算機的自動化功能置入儀器內(nèi)部，簡化了調(diào)整和測試步驟。機內(nèi)的LIF/DOS格式的3.5英寸軟盤驅(qū)動裝置，使儀器狀態(tài)、測量數(shù)據(jù)和校準數(shù)據(jù)、IBASIC程序的存儲不受限制。
將信號源、接收機、測試裝置、顯示器和磁盤驅(qū)動器組合成方便于使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀，對于制造、進貨、檢驗和維護均十分理想。
    設(shè)計時考慮了制造上的需要:簡單便于使用和自動功能節(jié)省了器件測試時間，HP射頻經(jīng)濟型網(wǎng)絡(luò)分析儀的節(jié)省時間的特性是考慮到大批制造的需要而設(shè)計的。
    HP8714ET在CRT上能同時顯示多個參數(shù)，如插損與回波損耗特性。內(nèi)部的逾100個儲存/調(diào)用寄存器可以加快器件的測試速度。儀器狀態(tài)在機上就能存取，節(jié)省了時間，減少了操作失誤。高效率的標記功能加快了元件的測試速度。儀器以實時方式計算和顯示被測器件的特性（最大、最小、3dB帶寬和光標搜索），并給出測量數(shù)據(jù)。
極限測試是將測量數(shù)據(jù)和用戶定義的參數(shù)范圍進行比較，并在儀器的顯示器上顯示結(jié)果。此特點保證了器件在所有生產(chǎn)狀態(tài)下進行調(diào)試達到相同的技術(shù)指標。
    HP IBASIC和內(nèi)置磁盤驅(qū)動器簡化了測量自動化，并降低系統(tǒng)成本。IBASIC的獨特按鍵式的記錄功能使手動測量自動化，而無需任何編程。利用與IBM兼容的PC和分析儀的DOS磁盤格式來控制你的測量系統(tǒng)，并將數(shù)據(jù)直接送至通用MS-DOS程序。采用串行、并行和HP-IB接口支持外部設(shè)備（打印機和繪圖儀）。
HP8714ET提供了經(jīng)濟的幅度測量，它在降低生產(chǎn)成本和提高競爭力方面是具有優(yōu)良性價比的低成本射頻元件測試系統(tǒng)。HP8714ET的頻率范圍為300kHz~3000MHz�？蛇x用的AM延遲能測量頻率變換器件的延遲。兩個獨立的顯示通道以多種有用的格式對兩種參數(shù)（如反射和傳輸）進行測量和顯示。
AM延遲
    延遲是器件的相位響應(yīng)頻率變化呈非線性的重要量序。幅度調(diào)制延遲可以測量不進行相位微分的頻率變換器件中的延遲。該分析儀利用兩個已校準的外部標量檢波器（HP86200B或86201B)來測量延遲。
這種方法簡單而可靠，但不能用來測量具有內(nèi)部自動增益控制（AGC）的器件或工作在飽和狀態(tài)下的器件。
全面、快速、經(jīng)濟的電纜測試
    對于制造廠家、安裝人員和維修人員來說，如果電纜的技術(shù)指標達不到要求便會造成巨大損失。選件100能對制造廠家給出的數(shù)據(jù)進行檢驗、并能對在裝運期間受到無法察覺的損傷的電纜進行全面測試。
徹底的電纜測試要求測量損耗、阻抗、結(jié)構(gòu)回路損耗（SRL）和故障位置。目前，所有這些功能都能由選件100提供。利用可變阻抗電橋進行的某些測試如SRL還要求操作者具有高超的能力。為了加快測量速度并降低對操作者進行培訓(xùn)的要求，選件100使SRL測量實現(xiàn)了自動化。
    結(jié)構(gòu)回路損耗（SRL）是入射信號與反射信號之比，它給出相對于電纜阻抗的反射系數(shù)。周期性干擾可能引起電纜中出現(xiàn)SRL。這些通常由整個制造過程或卷繞操作的偶然事件產(chǎn)生的干擾本身帶來的問題并不大。然而，相互反射則可能以相干方式相加，在波長對應(yīng)于干擾間隔兩倍的某個頻率上會引起明顯的反射。
故障定位選件100還包括一引起由任何其它方法所不具有的方便特點。精確測量要求操作者了解速度因子和每100英尺的電纜損耗。通常，制造廠家的技術(shù)指標不是立即可以利用或不精確。選件100能利用已知的一段短電纜來確定上述參數(shù)。
    此外，如果存在來自電纜故障或接頭處的多重反射，則反射的總能量可能影響后續(xù)故障處的測量精度。多凸出部修正能自動補償在測量后續(xù)故障時從每個故障處反射的能量。將大卷電纜連接到儀器上通常需要很長一段N型75Ω電纜。HP公司提供可用于此目的的長度為10英尺、15英尺和30英尺的低損耗、相位穩(wěn)定的電纜。
轉(zhuǎn)換測試裝置
    轉(zhuǎn)換測試裝置能在正、反兩個方向上進行快速而方便的測量。專門為大批量射頻元件制造而設(shè)計的轉(zhuǎn)換測試裝置能自動地在網(wǎng)絡(luò)分析儀與被測件之間轉(zhuǎn)換傳輸和反射測試端口的連接。這就允許用一次連接完成正向和反向參數(shù)的測量。在不要求有最高精度的制造環(huán)境下，轉(zhuǎn)換測試裝置是對具有全面二端口誤差修正的完全S參數(shù)測試裝置的一種經(jīng)濟的替代設(shè)備。
    專門選件K02是二端口轉(zhuǎn)換測試設(shè)備。此外，在有需求時，可以提供多端口配置。
校準配件
    通過在所考察的頻率范圍內(nèi)對已知器件（標準件）進行測量�？梢蕴岣呔�度以消除系統(tǒng)誤差。 HP 8714ET的配件包含表征這些誤差的一些標準件。
HP85032E
    50ΩN型經(jīng)濟型校準配件 HP 85032E包含用來校準網(wǎng)絡(luò)分析儀的50ΩN型標準件，用于對具有50ΩN型接頭的器件進行測量。標準件包括固定終端負載、開路器和短路器。
HP85033D 3.5mm校準配件
    HP85033D包含用來校準網(wǎng)絡(luò)分析儀的50Ω3.5mm標準件，用來對具有50Ω3.5mm接頭的器件進行測量。標準件包括固定終端負載、開路器和短路器。
HP85036
    75ΩN型經(jīng)濟型校準配件 HP 85036E包含用來校準網(wǎng)絡(luò)分析儀的75ΩN型標準件，用來對具有75ΩN型接頭的器件進行測量。 標準件包括固定終端負載、開路器和短路器。
HP85039A
    75ΩF型校準配件 HP 85039A包括用來校準網(wǎng)絡(luò)分析儀的75ΩF型標準件，用于對具有75ΩF型接頭的器件進行測量。標準件包括固定終端負載、開路器和短路器。