日本日置HIOKI3532-50LCR測試儀 產品介紹:
日本日置HIOKI 3532-50 LCR測試儀簡介:
測試頻率可在42Hz～5MHz寬廣頻率量程內以4位精確度自由調整。可很容易地測試被測物在高頻量程內的特性。操作非常簡便，改變設置時通過觸模屏幕，所需的設定選項會順序排列顯示出來。

日本日置HIOKI3532-50LCR測試儀基本參數:
測量參數
│Z│,│Y│,θ,Rp,Rs(ESR),G,X,B,Cp,Cs,Lp,Ls,D(tanδ)和Q

測量方法
測量源：恒流10μ～100mA(42Hz～1MHz)，50μ～20mA (1MHz～5MHz)，或恒壓10mV～5V(42Hz～1MHz),50mV～1V(1MHz～5MHz)
檢測：電壓，AC

測量頻率
42Hz～5MHz

測量量程
│Z│，R，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定)
θ:-180.00～＋180.00o，C:0.3200pF～370.00mF
L:16.000nH～750.00kH, D:0.00001～9.99999
Q:0.01～999.99， Y,G,B：5.0000nS～99.999S

基本精度
│Z│: ±0.08% rdg.，θ: ±0.05°

測量時間
│Z│的典型值
快速：5ms～ 慢速2：140ms

顯示
最大顯示值99999，LCD背光功能

比較器功能
設定：上、下限值，百分比或絕對值 輸出：3檔（高，中，低），開路集電極，絕緣

外部打印
9442 （與9443/9446/9593-01同時使用）

電源供應
100～240V AC 50/60Hz

體積及重量
352寬×124高×323厚mm，6.5kg

附件
電源線（1），保險絲（1）


日本日置HIOKI3532-50LCR測試儀選件：