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自動化測試工程師現在可以使用NI全新的400和200 Mb/s數字波形發生器/分析儀來同PXI平臺上低電壓差分信號設備（low-voltage differential signaling，LVDS）進行交互。這個全新的模塊是軍事和航間技術領域（例如監視、空間通訊、衛星技術和人工智能）的ATE測試、測量應用的理想之選。工程師們同時也可以在通訊子系統以及一些類似A/D 或 D/A轉換半導體設備中使用該模塊。
由于具有高速數據采集率和低耗能的特性，LVDS在自動化測試系統開發者當中正在迅速建立良好的聲譽。又因為LVDS的差分特性，所以它可以提供高抗干擾性和共模抑制，也使得它在保證高信號完整性的同時使用了低電壓波動。這種低電壓波動能夠保證最小的能量損耗，并為在高速率的情況下（達到幾百Mb/s）實現高速數據采集提供了可能性。通過使用LVDS，工程師們現在可以在低能量、長距離的條件下高速傳輸數據，而這在使用其它的單端口或者差分技術的情況下是無法實現的。
NI PXI-6562以及NI PXI-6561 LVDS數字波形發生器/分析儀分別提供了200和100 MHz時鐘頻率、200 和 100 Mb/s的數據采集率（單數據率情況下），以及200 和 400 Mb/s的數據采集率（雙數據率情況下）。該模塊提供了16個LVDS通道，并且在單一數據率模式下對每條通道的數據采集或者發生進行自定義方向控制，并且每條通道可以使用128Mb的內存空間。
由于該模塊是建立在通用的同步和存儲核心（Synchronization and Memory Core，SMC）構架上，它們能夠和其他基于SMC的模塊化儀器（例如最近發布的200 MS/s PXI數字化儀和任意波形發生器）實現緊密的同步。工程師們也可以使用多個LVDS 模塊在SMC同步技術之上，來建立多通道的計數系統。為能實現使用該模塊快速搭建相應的測試應用，工程師們可以通過使用2個強大的軟件工具（NI的 LabVIEW 7.1圖形化開發環境中的 Express VI、以及NI的數字化波形編輯器 ）來建立和編輯測試向量。 |
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