在測試測量行業高速發展的今天，工程師們對數據采集系統的精度、采樣率和傳輸速率要求越來越高，如何快速構建高效完整的數據采集系統成為整個測試測量工程項目的核心與關鍵。2008年泛華測控DAQ事業部“快速構建高效完整的數據采集系統”全國巡回研討會將為您解析數采系統的搭建過程，并通過用戶案例與您共同探討數據采集的解決方案，以滿足廣大測試測量工程師對數采系統的專業需求，敬請關注！

    泛華測控DAQ事業部是National Instruments（美國國家儀器有限公司）與北京中科泛華測控技術有限公司聯合成立的部門，DAQ事業部以NI高品質數據采集產品為平臺，秉承以人為本的服務理念，為國內數據采集用戶提供專業而完善的售前售后服務。

    本屆全國巡回研討會將分別于2008年10月14日、16日和21日在北京、天津、青島三地舉辦，屆時，DAQ事業部將向您展示最新的NI數據采集產品，并且免費為您發放尖端產品資料和數據采集白皮書，并為廣大測試測量工程師提供現場技術咨詢。此次研討會將引領您進入數據采集技術的殿堂，您不僅會了解到數據采集和信號調理基礎知識，NI數據采集產品的性能和優勢所在，還將掌握快速構建高效完整的數據采集系統的先進技術以及數采產品的選型方法。涉及的產品包括：M系列多功能數據采集卡、S系列同步數據采集卡、USB便攜式數據采集設備、LabVIEW的圖形化開發平臺等多種產品。

    作為全球領先數采設備的專業供應商，泛華測控DAQ事業部將致力于為客戶提供最貼心和專業的服務，與客戶攜手共同成長是DAQ事業部最大的心愿！

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